全速向前邁進

更快執行精密、可重複的奈米級量測

真實、持續不斷的進展有賴於科學家和工程師充分運用其有限的時間和精力。請詳閱是德科技有關原子力顯微學（AFM）、奈米壓痕（nanoindentation）和場發射掃描電子顯微學（FE-SEM）的應用說明，以了解如何透過新技術，在您進行奈米級研究和測試時，將您的每一分、每一秒，和您的努力最大化。

請送出下方表格以下載應用說明。