ミリ波誘電率測定用治具のご紹介
BCDR (Balanced Circular Disk Resonator)
共振器のご紹介
【BCDR (Balanced Circular Disk Resonator) 】
5G・高速デジタル・車載レーダー向け低損失誘電率測定に対応
『垂直方向』での電界による誘電率測定、『界面導電率』の測定ならBCDRにおまかせ！
特徴
- 『垂直方向』の電界を被測定試料にかけて測定が可能
- 約10GHz～120GHzの広範囲なミリ波誘電率測定を１台の共振器で測定可能
- 誘電率測定だけかはなく、銅張基板の『界面導電率』も測定可能
- IEC 63185準拠
測定器
- ネットワーク・アナライザを使用(PNAネットワーク・アナライザ等)
＊広帯域測定が可能なBCDRには、N5291Aブロードバンドシステムが最適です。
【N5291A PNAブロードバンド・システム 900Hz~120GHz】
【N5291Aとの接続例】
被測定試料
- er’=2～10, tanD=0.0001～0.01程度の低誘電率、低損失な素材
- シート状の誘電体(200um-350um程度の厚み) x２枚をペアで測定
【試料の形】
円形に近ければ良い（例えば八角形でも良いが、角が丸まっている方が良い）
【最適厚さの目安】
：200～350um程度
（測定可能な厚さは、測定周波数、被測定試料の誘電率,tanDに依存します）
【被測定試料の厚さと、最大測定可能周波数の関係】
例：比誘電率=3の被測定試料は0.35mmの厚さの場合、最大110GHzまで測定できる
＊誘電率が大きい被測定試料、損失（tanD）の大きい被測定試料の場合は薄い試料が必要になります。
測定時の電界の向き
- BCDRの測定電界の向き：試料に対して垂直方向
垂直方向の電界でミリ波誘電率が測定できるのはBCDRの特色です。
測定結果例
【共振ピーク測定例】：約15GHz～110GHz
ピーク周波数から比誘電率、Q値からtanDを計算
（被測定試料の厚みの情報は別途入力が必要）
【誘電率、tanD測定例】：約15GHz～110GHz
界面導電率の測定
高周波基板は銅箔と誘電体から形成されます。銅箔と誘電体基板の間の接着面は、化学処理、メッキや紫外線処理（粗化）して剥離しにくくします。そのため接着面の銅表面の界面導電率は、周波数が上がるにつれて低下し、基板の伝送損失を劣化させます。BCDRでは銅箔の界面導電率も測定が可能です。
Learn more about our commitment to privacy: Keysight Privacy Statement
© Keysight Technologies
© Keysight Technologies