ウェブセミナー｜キーサイト

イーサネットの未来と高速シリアル伝送評価の基礎と実践

2023年4月20日（木）、5月18日（木）参加費無料（登録制）

1936年にクロード・シャノンが論理回路の基礎を発明し、デジタル回路は急速な発展をとげたことは周知の通りです。そして、発明以来デジタル回路は「0」と「1」の2値信号でデータを扱うことが一般的でしたが、近年は、「00」、「01」、「10」、「11」の4値信号でデータを扱うPAM4（Pulse Amplitude Modulation 4：4値パルス振幅変調）が不可欠な要素となっています。PAM4を採用することで、1つのシンボルで2倍のデータを伝送できるため、高速通信の実現が可能になります。例えば、200Gbpsや400GbpsのイーサネットではPAM4を採用しており、今後の1.6TイーサネットではPAM4やPAM6、PAM8などの多値パルス振幅変調の採用が検討されています。本ウェブセミナーでは、有識者による1.6Tイーサネットの未来、そしてPAM4について詳しく説明し、更にその評価に必須となるアイパターンやジッタの評価について、基礎から実践までを説明します。

一つ以上のセミナーを選択しフォームをご記入後、送信ボタンを押してお申込み下さい。

2023年4月20日（木）に配信した”1.6T イーサネットの未来”と”BERで差別化できない？ PAM4で必須のFEC解析”はオンデマンドで配信中です。本ページ下でお申込み受付しておりますので、お気軽にご視聴ください。

2023年5月18日（木）

Ready for PAM4? – PAM4入門セミナ

2023年5月18日（木）9:30-10:30

データレートの高速化への対応の1つとしてPAM4という技術を使った通信が様々なインタフェースで利用され始めております。しかしながらこの技術への移行には当然大きな技術的なチャレンジが伴われます。このセミナーではこれからこの技術を使った開発に取り組まれるという方のためにPAM4伝送のトレンド、克服すべき技術課題、それに対する最適な解析手法をご紹介します。

講師：弊社エンジニア　：高橋　一

プリント基板におけるPAM4伝送特性の考察

2023年5月18日（木）10:45-11:45

近年、ネットワークインターフェースの高速化が進み、伝送容量は増大し続けております。400Gイーサネット時代の幕開けとともに、4値パルス振幅変調：PAM4という伝送方式に注目が集まっております。ビアスタブを短くするバックドリル工法など、特別な製造工法を加えてない汎用的なプリント基板を基材別で設計～シミュレーション～製造～実測を行い、PAM4伝送にどこまで追従できるのか考察しました。

講師：デザインプロセス株式会社　柴義彦様

これで納得！アイパターン・ジッタ評価の基礎

2023年5月18日（木）13:30-14:30

高速シリアル伝送ではアイパターン評価、ジッタ測定は基礎的かつ重要な評価ですが、高速化が進むインタフェースでは評価方法も複雑化しており、測定器に求められる性能も厳しくなっています。高速デジタル信号を扱う全てのエンジニアが通ることになる信号の振舞いの基礎理解と、それに沿った正しい評価の考え方を解説します。また、キーサイト最新オシロコープ最大の特徴である評価解析のスピードアップについて御覧いただきます。

講師：弊社エンジニア　：竹嶋茂樹

オンデマンド配信中）

1.6T イーサネットの未来

オンデマンド配信中

データセンターのトラフィックはますます増大しており、400G（あるいは800G）だけではそのトラフィックを十分にサポートできない状況になってきています。1.6Tはデータセンターネットワーキングの未来です。専門家による市場予測、技術的アドバイス、テストソリューションに関する情報をお届けします。

講師：Cathy Ye Liu, Director, Broadcom / Dr. Ali Ghiasi, Product Marketing Manager, Ghiasi Quantum LLC / Ryan Caldwell, Director, Intel / Dr. Tony Chan Carusone, Chief Technology Officer, Alphawave IP / Supriyo Dey, VP of Business Development, Eoptolink Technology Inc. / Joachim Peerlings, VP & GM, Keysight Technologies

本セミナーは海外で配信したセミナーに日本語字幕を追加して配信します。

BERで差別化できない？ PAM4で必須のFEC解析

オンデマンド配信中

400GbEに代表される高速イーサネット通信規格ではFEC(前方誤り訂正)の利用が前提となっています。この場合、従来の物理層試験で実施されてきたPRBS信号を用いたBERやストレス受信試験とFEC環境下での性能とが必ずしも相関しないため、システム障害や相互接続性の問題が更に深刻になります。本セミナーではFEC環境下における電気/光ストレステストを行う必要性とそのソリューションについて説明します。

講師：弊社エンジニア　：高橋　一

競合および個人のお客様のご視聴はお断りすることがございますので予めご了承ください。

申込フォーム

Eメールアドレスの変更

Eメールアドレス*

姓*

名*

会社／学校名（正式名称）*

所属*

役職*

郵便番号*

都道府県*

市町村*

住所*

国／地域*

電話番号*

製品またはソリューションの関心*

はい、キーサイトからのEメールニュースの受け取りを希望します

本イベントで得た個人情報・アンケート情報は、お客様へ連絡をし、お客様へのサービスや特典に関する情報を更新するなど、より良いサービスを提供するためにのみ使用します。なお、同様の目的のため、弊社のビジネスパートナーと共同利用させていただく場合がございます。詳細は　「キーサイト・テクノロジーズ・インクにおけるお客様のプライバシーに関する声明」　をご参照下さい。また、ご登録されましたセミナーの講師の企業・団体に対し、個人情報保護に関する契約を締結の上、第3者提供する場合がございます。第3者提供された情報は、講師によるセミナーに関するフォローアップや、セミナー講師の企業・団体での電子メールや電話による販売活動、研究開発活動を目的として使用されます。上記の送信ボタンのクリックにより、プライバシー・ステートメントおよび上記の個人情報の取り扱いについて、ご同意いただいたものとみなします。