超伝導量子ビットとスピン量子ビットの​プリスクリーニング - ​量子ビット開発の加速​
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FormFactorとKeysightは、先進的な量子開発のための開発サイクルを短縮する方法についてご案内します。両社は、mK温度での量子ビットデバイスのプリスクリーニングのための統合測定ソリューションを共同開発しました。このソリューションにより、極低温テストプロセスからワイヤーボンディングとパッケージの影響を排除し、50 mKでの重要な量子ビットの性能パラメータを提供します。また、10 mKでは既存の希釈冷凍機を使った開発を効率化し、開発サイクルを2倍以上短縮することができます。このターンキー測定ソリューションは、量子ビットの事前特性評価アプリケーションに完全に最適化されており、個々の機器の選択と統合という時間のかかるプロセスを省くことができます。
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超伝導量子ビットとスピン量子ビットのプリスクリーニング - 量子ビット開発の加速


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このウェビナーでは、以下の内容について説明します。

  1. 超伝導量子ビットプロセッサに要求される特性評価プロセスの概要
  2. 先進的な量子開発においてエンジニアが直面する以下のような課題の克服
  • 長い開発サイクル
  • 品質管理チェックがほとんど行われていない複雑な製造プロセス
  • 極低温試験・計測のための時間のかかるワイヤーボンディングとパッケージングを伴うDUTインタフェース
  • 希釈冷凍機による30時間以上の長いクールダウン時間
  • 低い歩留まりや低い量子ビットの性能と周波数の混雑
  • 希釈冷凍機で最終展開する前に量子ビットの初期パラメータを返し、デバイスを正確に合否判定する統合された自動化ソリューション

講師：
FormFactor Inc.　Business Development Scientist in Quantum Technologies　Dr. Jack DeGrave
キーサイト・テクノロジー　菊地 賢次

英語セミナー部分は日本語吹き替えで配信します。
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PRESENTERS
Dr. Jack DeGrave
Dr. Jack DeGrave
Business Development Scientist in Quantum Technologies
FormFactor Inc.
Kenji Kikuchi
菊地 賢次
Solution Expert
キーサイト・テクノロジー

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