Keysight ベーシック・セミナー・シリーズ＜デバイス材料編＞ウェブセミナー

Keysight ベーシック・セミナー・シリーズ

＜デバイス材料編＞

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6月の Keysight ベーシック・セミナー・シリーズでは、デバイス材料に関する測定の基礎を紹介いたします。お気軽にご参加ください。

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インピーダンス測定の基礎

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交流信号を扱う回路部品の電流の流れにくさは複素インピーダンスで示されます。回路設計においてはこのインピーダンス値の正確な値の把握が重要となります。また、LCR値や誘電率、透磁率といった材料のパラメータなどもインピーダンスから導出可能です。本セミナーでは、インピーダンスの基礎から適切な測定方法までを紹介します。

※本セミナーは、2021年10月 Keysight World 2021 で紹介した内容と同じです。

■講師：弊社　専任講師　石井幹

マルチメータでは測れない微小電流電圧、抵抗測定

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半導体や回路、材料の研究や開発の結果を左右する大きな要素として、電流・電圧・抵抗特性の正確な評価が挙げられます。しかしながら、リーク電流のような微小電流、絶縁抵抗のような高抵抗などはマルチメータでは測れません。そこで活躍するのが微小電流/電圧、高/低抵抗の測定を卓上で可能にするB2900B/BLシリーズプレシジョン測定器です。本セミナーでは本製品を、精密測定の手法や測定例を交えつつ紹介致します。

※本セミナーは、2021年10月 Keysight World 2021 で紹介した内容と同じです。

■講師：弊社　エンジニア　平原祐輔

IV測定の基礎、微小電流測定、4端子測定テクニック

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IV測定は、半導体、太陽電池、材料など様々な分野で必要とされる基本的な測定項目ですが、簡単な測定原理、測定手法を取得していないと安定した測定をおこなうことはできません。本セミナーでは、IV測定の評価装置、微小電流測定のテクニック、4端子抵抗測定のテクニックについて解説します。

※本セミナーは、2019年4月のウェブセミナーで紹介した内容と同じです。

■講師：弊社　エンジニア　村上多美江

半導体エンジニアのためのCV(容量・電圧）測定基礎

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半導体の界面準位の評価など、容量測定はデバイスの評価におけて重要ですが、電圧･電流（IV)測定時の配線とは異なった対応が必要になるなど、的確に対応するにはノウハウが必要となります。　本セミナーでは、デバイスの容量測定における問題点を取り上げ、測定のノウハウと事例をご紹介します。

※本セミナーは、2019年4月のウェブセミナーで紹介した内容と同じです。

■講師：弊社　エンジニア　村上多美江

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