高速スイッチングデバイスに対応したダブルパルステスター

ダブルパルステストは自作のシステムを使われている方が多いですが、SiCやGaNなどの高速スイッチングデバイスの測定には苦労されていると思います。また、測定の再現性や信頼性、またシステムの安全性にも課題があると思います。それらを解決するキーサイトのソリューションをご紹介します。